Ø 通流量選擇

確定壓敏電阻是用于防雷還是防止電子儀器及設(shè)備內(nèi)部的操作過電壓,以及防雷應(yīng)用的測試條件。雷擊測試常用1.2/50μS & 8/20μS組合波。

壓敏電阻的失效模式

Ø 熱擊穿

由于劣化,內(nèi)部均勻化差及吸收的脈沖能量過大等原因,會造成它的發(fā)熱大于散熱,引起熱崩潰(或局部熱崩潰),最終造成薄弱點(diǎn)穿孔而擊穿。

Ø 開裂、炸裂

由于元件本身存在結(jié)構(gòu)應(yīng)力,在元件吸收大量能量時(shí),因熱應(yīng)力作用而導(dǎo)致開裂.有時(shí)也有短路或開路情況發(fā)生。

解決方法：

Ø 盡量選擇優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品（如已經(jīng)過認(rèn)證的產(chǎn)品）。譬如通過的認(rèn)證UL1449 ：、VDE、CQC、CSA

Ø 從抑制瞬變干擾的角度出發(fā)，要盡量降低外施電壓與壓敏電壓的比率（它反映壓敏電的荷電率），選擇壓敏電壓稍高的MOV。必要時(shí)可采取多級保護(hù)，以解決元件壽命和被保護(hù)設(shè)備對瞬變抑制的要求。

Ø 當(dāng)壓敏電阻應(yīng)用在浪涌脈沖重復(fù)產(chǎn)生的場合時(shí)，通過壓敏電阻的浪涌峰值電流和浪涌能量不應(yīng)超過“脈沖電流壽命值”中的規(guī)定值。選擇通流量稍大的壓敏電阻。

典型應(yīng)用電路